精密測(cè)試探針英文名Test probe，是精密電測(cè)試過(guò)程中必不可少的部件。在電子電路研發(fā)和生產(chǎn)的過(guò)程中，經(jīng)常需要對(duì)信號(hào)的通斷以及質(zhì)量進(jìn)行測(cè)試分析，這個(gè)時(shí)候就需要使用精密測(cè)試探針將信號(hào)無(wú)損的接取出來(lái)提供給相應(yīng)的ICT或者測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行整合分析。

測(cè)試探針質(zhì)量的好壞，很大程度影響了測(cè)試的準(zhǔn)確性以及可重復(fù)性。目前國(guó)際間比較知名的測(cè)試探針品牌有 QA，Ingun，IDI，PTR，F(xiàn)M，Leeno等。

按照測(cè)試探針的應(yīng)用領(lǐng)域來(lái)區(qū)分，測(cè)試探針又分為常規(guī)ICT探針、半導(dǎo)體測(cè)試探針、RF高頻測(cè)試探針、大電流探針、電池接觸探針。

按照探針的結(jié)構(gòu)來(lái)區(qū)分，還可以分為常規(guī)單頭彈簧針、雙頭BGA測(cè)試針、針套轉(zhuǎn)接雙頭針等類(lèi)別。

在探針的選型前期，需要重點(diǎn)考慮的幾個(gè)參數(shù)分別為：測(cè)試探針的間距、選擇待測(cè)對(duì)象合適的頭型、測(cè)試承載的電流、測(cè)試運(yùn)動(dòng)的行程以及需要選擇的彈力等。